在制造業(yè)中，產品的形位公差尺寸檢測至關重要。隨著科技的發(fā)展，尺寸檢測技術已經從傳統(tǒng)的手動測量工具，如卡尺和游標卡尺，演進到了高精度的自動化檢測系統(tǒng)。本文將探討尺寸檢測技術的最新進展，以及它如何推動制造行業(yè)的變革。

優(yōu)爾鴻信檢測配備有數(shù)量眾多的三次元測量機、非接觸激光測量機等形位公差尺寸檢測設備，量測實驗室擁有幾十名經驗豐富的測量工程師，并獲得CNAS資質，技術實力雄厚，測試結果準確穩(wěn)定。

優(yōu)爾鴻信實驗室測試能力

尺寸量測

測試項目：FAI、Cpk、GRR、TVR、部份檢、檢 / 治具驗證比對、共面度、翹曲度

測試參數(shù)：

長度尺寸（距離、直徑、半徑等）

角度尺寸（角度）

形位尺寸（線 / 面輪廓度、平面度、直線度、平行度、垂直度、圓度、圓柱度、傾斜度、位置度、同軸度、同心度、對稱度）

共面度、翹曲度

標準方法：

相關報告：AUTO CAD 報表、AUTO CAD 報告、MSOP 制作、量測 MTD 報告、圖片報告（CCD 拍照）

設備分類

影像三次元（非接觸式）

型號： • VMS553(H)（X/Y 500mm、Z 250mm）
• VMS332(H)（X/Y 300mm、Z 200mm）
• VMS222（X/Y/Z 200mm）

允差：XY平面允差精度最高±1.5μm/m+3L；Z軸允差±2.0-3.0μm/m+4L

軟件：統(tǒng)一采用Smart Inspector V3.0

三次元量床（接觸式）

型號： • Global Image 153010（15m超大測量范圍，精度±3.0+3.5L/1000μm）
• PowerMetro T-8106（800×1000×600mm，±(3.0+L/300)μm特殊允差）

高精度檢測裝備

GOM藍光掃描儀： • ATOS Triple Scan SO 5M（MV60/MV170/MV320鏡頭組）
• ATOS Capsule 12M（MV70/MV120/MV200鏡頭組）
• 探針誤差低達0.003mm（σ值）

3D光學輪廓儀： • Sensofar S-NEOX（白光干涉技術，0.1%重復性）
• ADE Micro XAM 1200（納米級檢測，相移模式0.05nm重復性）