電子元器件失效分析及案例分享
◆發現產品失效問題的“千里眼”
在電子技術飛速發展的今天，一顆微小的電子元器件，往往承載著智能設備的核心功能，但功能失效時可能成為整個系統崩潰的引導問題并造成損失。在這種情況下，我們需要對其進行失效分析，電子元器件失效分析便是我們發現問題的“千里眼”。
◆失效≠報廢，科學分析能夠找出問題降低損失
電子元器件失效：因內部或外部環境因素，導致其電學特性或物理、化學性能降低至不能滿足規定要求的狀態。
引起失效的原因多種多樣，主要有以下幾類：1.材料、設計、工藝；2.環境應力；3.時間等。為了減少因產品失效導致損失，建議在電子元器件失效時，對其進行專業的失效分析并找出失效原因，利于產品改進及優化。
◆規范的檢測流程與方法搭配先進的檢測儀器為產品質量保駕護航
常用的失效分析流程：第一步對產品進行信息和數據收集；第二步對產品進行試驗方案設計；第三步試驗實施；第四步結果分析和驗證；第五步進行結果總結和報告整理。
常用的分析方法：外觀檢查、功能檢測、X-RAY檢測、超聲波檢測、切片研磨、開封檢測、OBIRCH檢測、EMMI檢測、Delayer檢測、聚焦離子束FIB等。
常用的分析設備：3D顯微鏡、特性曲線儀、示波器、X-RAY檢測儀、超聲波掃描儀、電子掃描電鏡等。
◆線上互動，共解難題
2025年4月16日，優爾鴻信開展“電子元器件失效分析及案例分享”網絡專題研討會，邀請了劉建錦講師，在線詳細介紹電子元器件的失效分析及相關案例分享，并即時為您答疑解惑。
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